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雙晶探頭

雙晶探頭

產(chǎn)品時(shí)間:2024-08-27

訪問(wèn)量:897

廠商性質(zhì):代理商

生產(chǎn)地址:

簡(jiǎn)要描述:
一個(gè)探頭殼體內(nèi)裝有兩個(gè)晶片的探頭我們稱(chēng)之為雙晶探頭,又稱(chēng)分割式探頭。由兩個(gè)縱波晶片組合成的稱(chēng)為縱波,又稱(chēng)雙晶直探頭;由兩個(gè)橫波晶片組成的稱(chēng)為橫波探頭,又稱(chēng)雙晶斜探頭。

一、一個(gè)探頭殼體內(nèi)裝有兩個(gè)晶片的探頭我們稱(chēng)之為雙晶探頭,又稱(chēng)分割式探頭。由兩個(gè)縱波晶片組合成的稱(chēng)為縱波,又稱(chēng)雙晶直探頭;由兩個(gè)橫波晶片組成的稱(chēng)為橫波,又稱(chēng)雙晶斜探頭。


二、這兩種中,雙晶直探頭的應(yīng)用較為廣泛。雙晶直探頭的兩個(gè)縱波晶片一個(gè)用于發(fā)射超聲,一個(gè)用于接收超聲。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛,接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰。(見(jiàn)下圖)


三、區(qū)別于單晶探頭而言,發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。兩個(gè)晶片之間有一片吸聲性強(qiáng)、絕緣性好的隔聲層,它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞,而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進(jìn)入接收晶片,有效減少雜波。


四、由于探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊,能使探傷盲區(qū)大幅減小,故對(duì)表面缺陷的探傷十分有利。


五、正確選擇探頭:

1、探頭頻率的選擇,超聲的發(fā)射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測(cè)能力。頻率高時(shí),波長(zhǎng)短,聲束指向性好,擴(kuò)散角較小,能量集中,因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力則比較強(qiáng)、分辨力好、缺陷定位準(zhǔn)確。但高頻率超聲在材料中衰減較大,穿透能力較差,反之亦然。由于適用于較薄工件的探傷,不需要較強(qiáng)的穿透力。因此可以采用較高頻率的探頭。對(duì)于鍛件,板材,棒材等晶粒細(xì)小的工件,可以采用5MHz(若被檢工件表面較粗糙,高頻超聲散射較大,不易射入,則容易出現(xiàn)林狀回波)。對(duì)于晶粒粗大,超聲散射嚴(yán)重的材料,如奧斯體不銹鋼和鑄造件等,頻率高時(shí),也會(huì)出現(xiàn)晶界引起的林狀回波,致使無(wú)法探傷,對(duì)于這一類(lèi)材料,建議選用1MHz—2.5MHz的低頻率。

2、晶片尺寸的選擇從以上介紹的工作原理來(lái)看,探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區(qū),跟晶片的大小沒(méi)有直接的關(guān)系。晶片大小,只與工件探測(cè)面積的大小有關(guān),當(dāng)檢測(cè)面積大時(shí),為了提高探傷效率,宜采用晶片尺寸較大的探頭。當(dāng)檢測(cè)面積較小,或者檢測(cè)面帶有一定曲率的情況下,為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭。

3、焦距的選擇的兩個(gè)晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會(huì)產(chǎn)生相交,形成棱形的區(qū)域,此區(qū)域即為探傷區(qū)域。菱形區(qū)愈長(zhǎng),焦距愈大,探測(cè)深度愈深,適合厚工件的探傷檢驗(yàn),菱形區(qū)愈短,焦距愈小,探測(cè)深度愈淺,適合薄工件的探傷。處于棱形區(qū)的缺陷,其反射信號(hào)強(qiáng),同時(shí)對(duì)于同樣大小的缺陷,位于棱形區(qū)中心時(shí),反射信號(hào)。因此在實(shí)際探傷過(guò)程中,要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當(dāng)?shù)慕咕?。焦距越小,則對(duì)薄工件的探傷越有利。4、一般來(lái)說(shuō),選擇的焦距小于被檢工件厚度5—10mm左右。探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高,到達(dá)最大值后又隨深度增加而下降田,這種探傷靈敏度的變化的特點(diǎn)。


六、雙晶直探頭板材檢測(cè):

1、探頭的選擇

板厚≤60mm厚的鋼板可選用雙晶直探頭,探傷的目的就是掃查出缺陷在整個(gè)厚度范圍內(nèi)的位置以及在板面上的分布,根據(jù)缺陷大小,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判定其合格與否。由于鋼板缺陷的富集區(qū)一般在鋼板中心部位,其次是板厚的1/4和3/4處,所以探頭的選擇和靈敏度的調(diào)整,必須考慮鋼板中心部位應(yīng)有較高的檢出能力,且其他部位不漏檢。例如檢測(cè)20mm規(guī)格鋼板,缺陷在10mm處易出現(xiàn),選擇焦距F10探頭,以20mm大平底調(diào)整靈敏度,既能保證10mm位置處較高的檢測(cè)靈敏度,又能保證3和20mm位置有基本相同的靈敏度;同樣對(duì)于10mm鋼板,選擇焦距F5探頭,以10mm大平底調(diào)整靈敏度,保證了5mm位置處較高的檢測(cè)能力,又能保證3和10mm位置的靈敏度基本相同,所以,為保證鋼板檢測(cè)質(zhì)量,理想的焦距應(yīng)等于鋼板厚度的一半。

2、掃查方式

NB/T47013-2015規(guī)定的掃查方式見(jiàn)下圖

1)鋼板邊緣或坡口預(yù)定線兩側(cè)(50、75、100)100%掃查; 2)中心部分間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm的格子線掃查。

2)雙晶直探頭掃查時(shí),探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭隔聲層相垂直。

3、缺陷性質(zhì)估計(jì)

分層:缺陷波形陡直,底波明顯下降或消失;

折疊:不一定有缺陷波,但底波明顯下降,次數(shù)減少甚至消失,始波加寬;

白點(diǎn):波形密集尖銳活躍,底波明顯下降,次數(shù)減少,重復(fù)性差,移動(dòng)探頭,回波此起彼伏。

4、特性

獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損

在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量

加上特殊的延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測(cè)量

5、應(yīng)用

近表面的小缺陷探測(cè)和評(píng)估

焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測(cè)

腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測(cè)量(包括高溫情況下測(cè)量)

粘結(jié)檢測(cè)

螺釘,螺栓,銷(xiāo)釘

覆層和堆焊層

軸,桿,方坯芯檢測(cè)

粗晶材料

火車(chē)車(chē)輪637859580598769405134.jpg


系列

型號(hào)

頻率

(MHz)

焦距

(mm)

單晶片尺寸

(mm)

外觀尺寸

帶寬

接口類(lèi)型

接口方向

SEB

SEB 1

1

20

Φ21半圓

類(lèi)型15

40

雙聯(lián)

Lemo 00

側(cè)裝

SEB 1-EN

1

20

SEB 2

2

15

7x18

SEB 2-EN

2

15

SEB 2-0°

2

30

SEB 2-EN-0°

2

30

SEB 4

4

12

6x20

SEB 4-EN

4

12

SEB 4-0°

4

25

SEB 4-EN-0°

4

25

MSEB

MSEB 2

2

8

Φ11半圓

類(lèi)型16

40

MSEB 2-EN

2

8

MSEB 4

4

10

3.5x10

MSEB 4-EN

4

10

MSEB 4-EN-0°

4

18

MSEB 4-0°

4

18

MSEB 5

5

10

Φ9半圓

SEB KF

SEB 2 KF 5

2

6

Φ8半圓

類(lèi)型17

30-60

Microdot

X2

SEB 4 KF 8

4

6

SEB 4 KF 8-EN

4

6

SEB 5 KF 3

5

3

SEB 10 KF 3

10

3

Φ5半圓

類(lèi)型18

SEB 10 KF 3-EN





 

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