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用于檢測腐蝕和其他損傷情況的OmniScan X3探傷儀

更新時間:2024-07-20   點擊次數(shù):556次

用于檢測腐蝕和其他損傷情況的OmniScan X3探傷儀

OmniScanX3探傷儀

腐蝕檢測,簡便易行

利用相控陣技術進行腐蝕檢測具有很多優(yōu)勢,其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。但是,熟練掌握相控陣技術具有一定的挑戰(zhàn)性。OmniScan X3探傷儀通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單提供高級功能,從而可使您簡單輕松地獲得準確的數(shù)據(jù)。

儀器所提供的高級工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像,可用于檢測腐蝕或其他一些較難探測到的損壞現(xiàn)象,如:高溫氫致缺陷(HTHA)和氫致裂紋(HIC)

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只需非常簡單的設置,就可以使用一個最多包含64個晶片的孔徑生成具有優(yōu)質分辨率的 全聚焦方式(TFM)圖像

任何水平的操作人員在使用儀器時都會感到 得心應手

得益于簡化的菜單結構和設置向導,您可以更輕松地設置復雜的解決方案,如:與HydroFORM掃查器配套進行的檢測

腐蝕檢測,簡便易行

 

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較大的文件容量可以實現(xiàn)更快的數(shù)據(jù)通量,并可進行不間斷的掃查

使用一個25 GB的大容量文件,可以掃查一個最大13米2的區(qū)域,還可以對大型管道進行完整的周向掃查。

檢測人員正在使用相控陣探傷儀進行腐蝕檢測

用于條件艱苦的環(huán)境

10.6英寸WXGA顯示屏上的 圖像清晰可見

觸摸顯示屏反應靈敏,即使在帶著手套、粘有耦合劑,或者在雨中操作時,其靈敏度也不會降低

符合IP65評級標準,防塵防水

可在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)正常操作,而不會降低其符合IP65評級的水平

用于檢測腐蝕和其他損傷情況的OmniScan X3探傷儀